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吉時(shí)利2410測(cè)量電鏡中的被測(cè)件(如何去除積累電荷對(duì)測(cè)量的影響)

更新時(shí)間:2019-07-11       點(diǎn)擊次數(shù):1171

吉時(shí)利2410 SourceMeter SMU 儀器,測(cè)量電鏡中的被測(cè)件(如何去除積累電荷對(duì)測(cè)量的影響)

問(wèn)題:

吉時(shí)利2410 SourceMeter SMU 儀器,測(cè)量電鏡中的被測(cè)件(如何去除積累電荷對(duì)測(cè)量的影響)

回答:

4200系統(tǒng)測(cè)量時(shí)可以直接進(jìn)行處理使得電荷放電至地點(diǎn)。
單臺(tái)源表做類似測(cè)量時(shí),先加載0V電壓源測(cè)量I,將線路導(dǎo)通放電;延遲一段時(shí)間后,在加載需要的電壓進(jìn)行正常的測(cè)量。

此常見(jiàn)問(wèn)題適用于:

Product Series: Keithley SMU 2400 圖形系列 SourceMeter2400 系列 SMU

Product: 2400

常見(jiàn)問(wèn)題ID : 473396

 

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